Süli Árpád; Michailovits Lehel; Hevesi Imre: Determination of the thickness and the refractive index of V2O5 thin films from reflectance interference spectra. In: Acta physica et chemica, (25) 1-2. pp. 29-41. (1979)
Előnézet |
Cikk, tanulmány, mű
phys_chem_025_fasc_001_002_029-041.pdf Letöltés (791kB) | Előnézet |
| Mű típusa: | Cikk, tanulmány, mű |
|---|---|
| Befoglaló folyóirat/kiadvány címe: | Acta physica et chemica |
| Dátum: | 1979 |
| Kötet: | 25 |
| Szám: | 1-2 |
| ISSN: | 0001-6721 |
| Oldalak: | pp. 29-41 |
| Nyelv: | angol |
| Befoglaló mű URL: | http://acta.bibl.u-szeged.hu/39349/ |
| Kulcsszavak: | Természettudomány, Kémia, Fizika |
| Megjegyzések: | Bibliogr.: 41. p.; Ismertetett mű: A. Šûli-L. Mihajlovič-I. Heveši: Opredelenie tolŝiny i koèfficenta prelomleniâ tonkih sloev V2O5 na osnovanii otrožatel'nyh interferencionnyh spektrov |
| Feltöltés dátuma: | 2016. okt. 17. 09:25 |
| Utolsó módosítás: | 2021. jún. 01. 13:23 |
| URI: | http://acta.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/24114 |
 |
Tétel nézet |
