Determination of the thickness and the refractive index of V2O5 thin films from reflectance interference spectra

Süli Árpád; Michailovits Lehel; Hevesi Imre: Determination of the thickness and the refractive index of V2O5 thin films from reflectance interference spectra. In: Acta physica et chemica, (25) 1-2. pp. 29-41. (1979)

[thumbnail of phys_chem_025_fasc_001_002_029-041.pdf]
Előnézet
Cikk, tanulmány, mű
phys_chem_025_fasc_001_002_029-041.pdf

Letöltés (791kB) | Előnézet
Mű típusa: Cikk, tanulmány, mű
Befoglaló folyóirat/kiadvány címe: Acta physica et chemica
Dátum: 1979
Kötet: 25
Szám: 1-2
ISSN: 0001-6721
Oldalak: pp. 29-41
Nyelv: angol
Befoglaló mű URL: http://acta.bibl.u-szeged.hu/39349/
Kulcsszavak: Természettudomány, Kémia, Fizika
Megjegyzések: Bibliogr.: 41. p.; Ismertetett mű: A. Šûli-L. Mihajlovič-I. Heveši: Opredelenie tolŝiny i koèfficenta prelomleniâ tonkih sloev V2O5 na osnovanii otrožatel'nyh interferencionnyh spektrov
Feltöltés dátuma: 2016. okt. 17. 09:25
Utolsó módosítás: 2021. jún. 01. 13:23
URI: http://acta.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/24114
Bővebben:
Tétel nézet Tétel nézet