Mikrokapcsolók élettartamának vizsgálata

Sipkás, Vivien and Vadászné Bognár, Gabriella: Mikrokapcsolók élettartamának vizsgálata. In: Jelenkori társadalmi és gazdasági folyamatok, (12) 4. pp. 95-102. (2017)

[img]
Preview
Cikk, tanulmány, mű
jelenkori_012_004_095-102.pdf

Download (832kB) | Preview

Abstract

Absztrakt: A vizsgált mikrokapcsolók meghibásodási analízise során a gyorsított élettartam vizsgálati módszert kívánjuk alkalmazni. A tesztsorozatok eredményeinek elemzésekor meghatározzuk az ún. Weibull-eloszlás paramétereit és vizsgáljuk a tönkremeneteli és meghibásodási folyamatok hatását a mikrokapcsolók élettartamára vonatkozóan. Abstract: The accelerated lifetime testing method is used for the investigation of the failure analysis of the micro switches. During the examination, the determination of the parameters of the Weibull distribution is carried out and the effect of the failure methods is analysed for the lifetime of the micro switches.

Item Type: Article
Journal or Publication Title: Jelenkori társadalmi és gazdasági folyamatok
Date: 2017
Volume: 12
Number: 4
ISSN: 1788-7593
Page Range: pp. 95-102
Uncontrolled Keywords: Mikroelektronika, Elektronika
Additional Information: Bibliogr.: p. 101-102. ; Összefoglalás magyar és angol nyelven
Date Deposited: 2018. Jul. 24. 15:01
Last Modified: 2020. Jun. 03. 11:51
URI: http://acta.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/54885

Actions (login required)

View Item View Item