Tudományterület szerző szerint "Michailovits, Lehel"

Vissza
Export [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
csoportosítás: Mű típusa | csoportosítás nélkül
Találatok száma: 11.

Cikk, tanulmány, mű

Michailovits, Lehel; Török, Miklós; Hevesi, Imre: On the error of the absorption coefficients of weakly absorbing thin layers, determined from transmittance measurements. Acta physica et chemica, (34) 1-4. pp. 3-16. (1988)

Süli, Árpád; Michailovits, Lehel; Hevesi, Imre: Determination of the thickness and the refractive index of V2O5 thin films from reflectance interference spectra. Acta physica et chemica, (25) 1-2. pp. 29-41. (1979)

Bali, K.; Michailovits, Lehel; Hevesi, Imre: Preparation of amorphous V2O5 thin films by chemical vapour deposition method. Acta physica et chemica, (25) 1-2. pp. 43-45. (1979)

Bali, Katalin; Michailovits, Lehel; Hevesi, Imre: Etching investigations on syngle crystals of V2O5. Acta physica et chemica, (23) 2-3. pp. 279-286. (1977)

Süli, Árpád; Krumašev, S. D.; Michailovits, Lehel; Hevesi, Imre: Photoconductivity of V2O5-Si sandwich system. Acta physica et chemica, (22) 1-4. pp. 45-55. (1976)

Süli, Árpád; Michailovits, Lehel; Liszt, F.: Preparation and invesigation of thick Si(Li) p-i-n gamma detectors. Acta physica et chemica, (20) 3. pp. 333-350. (1974)

Süli, Árpád; Michailovits, Lehel: C.P.D. measurements on oxidized silicon surfaces. Acta physica et chemica, (18) 1-2. pp. 27-37. (1972)

Michailovits, Lehel; Süli, Árpád: Investigations on voltage distribution influenced by field effect of germanium-electrolyte interfaces. Acta physica et chemica, (16) 3-4. pp. 125-132. (1970)

Michailovits, Lehel; Török, Miklós: Some remarks on electrolytical etching of germanium surfaces. Acta physica et chemica, (16) 3-4. pp. 133-139. (1970)

Michailovits, Lehel; Gyulai, József; Járai, J.: Surface recombination velocity measurements on surfaces of n-type germanium subjected to various gas cycles. Acta physica et chemica, (15) 3-4. pp. 95-98. (1969)

Gyulai, József; Michailovits, Lehel; Rauscher, Eve: Improved flying spot method for determination of surface recombination velocity in semiconductors. Acta physica et chemica, (13) 3-4. pp. 99-102. (1967)

A lista elkészítésének dátuma 2017. szeptember 21. 10:44:13 CEST.