An addition to the methods of test determination for fault detection in combinational circuits

Cvetković Ljubomir: An addition to the methods of test determination for fault detection in combinational circuits. In: Acta cybernetica, (16) 4. pp. 545-566. (2004)

[thumbnail of Cvetkovic_2004_ActaCybernetica.pdf]
Előnézet
Cikk, tanulmány, mű
Cvetkovic_2004_ActaCybernetica.pdf

Letöltés (208kB) | Előnézet

Absztrakt (kivonat)

We propose a procedure for determining fault detection tests for single and multiple fault in combinational circuits. The stuck-at-fault model is used. By the proposed procedure all test vectors for single and multiple stuck-at-fault in combinational circuit are determined. The path sensitization method is used in the test signal propagation while test signals are defined on a four element set. The procedure can also be applied to the fault detection in programmable logic devices. We consider two-level combinational circuits which are realized by the PAL architecture and we propose a procedure for determining a test set which detects all single stuck-at-faults. As a mathematical tool, the cube theory is used.

Mű típusa: Cikk, tanulmány, mű
Befoglaló folyóirat/kiadvány címe: Acta cybernetica
Dátum: 2004
Kötet: 16
Szám: 4
ISSN: 0324-721X
Oldalak: pp. 545-566
Nyelv: angol
Kiadás helye: Szeged
Befoglaló mű URL: http://acta.bibl.u-szeged.hu/38518/
Kulcsszavak: Számítástechnika, Nyelvészet - számítógép alkalmazása
Megjegyzések: Bibliogr.: p. 565-566. ; összefoglalás angol nyelven
Szakterület: 01. Természettudományok
01. Természettudományok > 01.02. Számítás- és információtudomány
Feltöltés dátuma: 2016. okt. 15. 12:25
Utolsó módosítás: 2022. jún. 15. 10:06
URI: http://acta.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/12740
Bővebben:
Tétel nézet Tétel nézet