Cvetković Ljubomir: An addition to the methods of test determination for fault detection in combinational circuits. In: Acta cybernetica, (16) 4. pp. 545-566. (2004)
Előnézet |
Cikk, tanulmány, mű
Cvetkovic_2004_ActaCybernetica.pdf Letöltés (208kB) | Előnézet |
Absztrakt (kivonat)
We propose a procedure for determining fault detection tests for single and multiple fault in combinational circuits. The stuck-at-fault model is used. By the proposed procedure all test vectors for single and multiple stuck-at-fault in combinational circuit are determined. The path sensitization method is used in the test signal propagation while test signals are defined on a four element set. The procedure can also be applied to the fault detection in programmable logic devices. We consider two-level combinational circuits which are realized by the PAL architecture and we propose a procedure for determining a test set which detects all single stuck-at-faults. As a mathematical tool, the cube theory is used.
Mű típusa: | Cikk, tanulmány, mű |
---|---|
Befoglaló folyóirat/kiadvány címe: | Acta cybernetica |
Dátum: | 2004 |
Kötet: | 16 |
Szám: | 4 |
ISSN: | 0324-721X |
Oldalak: | pp. 545-566 |
Nyelv: | angol |
Kiadás helye: | Szeged |
Befoglaló mű URL: | http://acta.bibl.u-szeged.hu/38518/ |
Kulcsszavak: | Számítástechnika, Nyelvészet - számítógép alkalmazása |
Megjegyzések: | Bibliogr.: p. 565-566. ; összefoglalás angol nyelven |
Szakterület: | 01. Természettudományok 01. Természettudományok > 01.02. Számítás- és információtudomány |
Feltöltés dátuma: | 2016. okt. 15. 12:25 |
Utolsó módosítás: | 2022. jún. 15. 10:06 |
URI: | http://acta.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/12740 |
Tétel nézet |